Yuescope显微镜各种不同的观察法满足您的需求
- 来源：Yuescope显微镜
- 发布时间：2023-10-24 16:56
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【概要描述】明场观察：对于不透明样本，如合金材料、PCB、晶圆等，可通过使用各种反射光实现真正的反射明场观察。使用反射光可以在明场、暗场、偏光、DIC中对样本进行成像和检查一所有这些都在一个便捷的系统里。
Yuescope显微镜各种不同的观察法满足您的需求
【概要描述】明场观察：对于不透明样本，如合金材料、PCB、晶圆等，可通过使用各种反射光实现真正的反射明场观察。使用反射光可以在明场、暗场、偏光、DIC中对样本进行成像和检查一所有这些都在一个便捷的系统里。
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明场观察：对于不透明样本，如合金材料、PCB、晶圆等，可通过使用各种反射光实现真正的反射明场观察。使用反射光可以在明场、暗场、偏光、DIC中对样本进行成像和检查一所有这些都在一个便捷的系统里。
暗场观察暗：视场可以让用户观察来自样本散射和衍射的光线，光源的光线会先穿过照明装置中的环形光学器件，然后在样本上聚集。样本上的光线只是由Z轴上的瑕疵反射形成的。因此，用户可以观测到比光学显微镜分辨率极限更小的、8nm级的微小划痕和缺陷。Yuescope显微镜为您推荐：枝晶显微镜
偏光观察：该显微观察技术所使用的偏振光是由一组滤镜(起偏器和检偏器) 所产生。样本特征会直接影响系统反射光的强度。该观察法适用于观察金相组织、石黑、矿物、LCD和半导体材料等。
微分干涉 (DIC) 观察：DIC可以将明视场观察法中无法检测到的高度差异。用增强对比度以浮雕或三维图像的形式表现出来。该项基于偏光的技术，适用于检测高度差异及其微小的样本，包括金相组织、矿物、硬盘表面和晶研磨面等。
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